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elektrophysik測厚儀MiniTest740
為了質量控制和檢驗的靈活性，MiniTest740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。SIDSP探頭具有*的抗干擾性、SIDSP－測量信號高穩定性、預設選項節省您的時間和金錢、SIDSP探頭對溫度變化不敏感、SIDSP探頭適應性強、SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償。
elektrophysik測厚儀MiniTest740主機參數
| MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
存儲數據量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統計值 | 讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置） | ||
校準程序符合標準和規范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 | ||
極限值監控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數據接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內置）/230g（外置） |
MiniTest740主特點
--創新的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的性
－測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
－FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。
