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          Mintest 3100測厚儀產品特點

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          Mintest 3100測厚儀產品特點

           

          作為無損檢測厚度行業的*,德國EPK公司多年來一直致力于防腐層檢測,特別是涂層測厚儀的產品更是遠銷*。

           

          德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。

           

          Mintest 3100測厚儀產品特點應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) ,每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值) ,可用各自的日期和時間標識特性的組數 

           

          數據總量 
          MINITEST統計計算功能

          讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar ,讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk ,組統計值六種x,s,n,max,min,kvar ,組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk ,存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 ,分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 ,顯示并打印測量值、打印的日期和時間 

           

          其他功能

          透過涂層進行校準(CTC) ,在粗糙表面上作平均零校準 ,利用計算機進行基礎校準 ,補償一個常數(Offset) ,外設的讀值傳輸存儲功能 ,保護并鎖定校準設置 ,更換電池是存儲數值 ,設置極限值 ,公英制轉換 ,連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值 ,連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 ,浮點和定點方式數據傳送 ,組內單值延遲顯示 ,連續測量模式中顯示zui小值 

           

          產品特點:

          • 適用于多種應用的耐磨探頭
          • 具有自動基板檢測的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測量
          • 具有幾乎無限壽命的耐磨探頭
          • 測量精度高,重復性好
          • 測量值的存儲與評估
          • 特殊的粗糙表面和校準標定函數未知涂層(CTC方法)
          • 所有的探頭都配備了耐磨桿,確保使用壽命長,也適用于磨料基板。

           

          我們可以根據要求提供特殊的探頭型號:
          在潮濕地區使用的*密封探頭;
          溫度高達250°C和350°C適用的耐熱探頭;

          非破壞性測量覆蓋以下測量范圍:

          0 - 50mm鋼無磁性涂料
          0 - 100mm有色金屬絕緣涂層
          10-200µM絕緣基材銅層
          0 - 1600µM鋼和有色金屬粉末涂料

           

          所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
          N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

           

          MINITEST 存儲的數據量

          應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

          1

          1

          10

          99

          每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)

           

          1

          10

          99

          可用各自的日期和時間標識特性的組數

           

          1

          500

          500

          數據總量

          1

          10000

          10000

          10000

          MINITEST統計計算功能

          讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

           

          讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

           

           

          組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

           

           

          組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

           

           

          存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

           

           

           

          分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

           

           

          顯示并打印測量值、打印的日期和時間

           

          其他功能

          設置極限值

           

           

          連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別***大***小值

           

           

          連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

           

           

          連續測量模式中顯示***小值

           

          (探頭圖示)
          所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
          N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

          探頭

          量程

          低端
          分辨率

          誤差

          zui小曲率
          半徑(凸/凹)

          zui小測量
          區域直徑

          zui小基
          體厚度

          探頭尺寸




           

           

           

           

           

           

           

          F05

          0-500μm

          0.1μm

          ±(1%±0.7μm)

          1/5mm

          3mm

          0.2mm

          φ15x62mm

          F1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x170mm

          F3

          0-3000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F10

          0-10mm

          5μm

          ±(1%±10μm)

          5/16mm

          20mm

          1mm

          φ25x46mm

          F20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±10μm)

          10/30mm

          40mm

          2mm

          φ40x66mm

          F50

          0-50mm

          10μm

          ±(3%±50μm)

          50/200mm

          300mm

          2mm

          φ45x70mm



           

           

           

          FN1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ15x62mm

          FN1.6P

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          30mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ21x89mm

          FN2

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ15x62mm




           

           

           

           

           

           

           

           

           

          N02

          0-200μm

          0.1μm

          ±(1%±0.5μm)

          1/10mm

          2mm

          50μm

          φ16x70mm

          N.08Cr

          0-80μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          2.5mm

          2mm

          100μm

          φ15x62mm

          N1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          2mm

          50μm

          φ15x62mm

          N1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/10mm

          5mm

          50μm

          φ13x170mm

          N10

          0-10mm

          10μm

          ±(1%±25μm)

          25/100mm

          50mm

          50μm

          φ60x50mm

          N20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±50μm)

          25/100mm

          70mm

          50μm

          φ65x75mm

          N100

          0-100mm

          100μm

          ±(1%±0.3mm)

          100mm/平面

          200mm

          50μm

          φ126x155mm

          CN02

          10-200μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          7mm

          無限制

          φ17x80mm

          注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
          N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
          CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

          探頭選擇:

          FN1.6
          0~1600μm,φ5mm
          兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

          FN1.6P
          0~1600μm,φ30mm
          兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度

          F05
          0~500μm,φ3mm
          磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
          量程低端分辨宰很高(0.1μm)

          F1.6
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

          F3
          0~3000μm,φ5mm
          磁性測頭
          可用于較厚的覆層

          F1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          90度磁性測頭
          尤其適合于在管內壁測量
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

          F10
          0~10mm,φ20mm
          適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

          F20
          0~20mm,φ40mm
          適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 

          F50
          0~50mm,φ300mm
          適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

          N02
          0~200μm,φ2mm
          非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

          N0.8Cr
          0~80μm,φ2mm
          適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

          N1.6
          0~1600μm,φ2mm
          非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

          N1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
          尤其適合在管內壁測量
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

          N10
          0~10mm,φ50mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

          N20
          0~20mm,φ70mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等


          N100
          0~100mm,200mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

           

          CN02
          10~200μm,φ7mm
          用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

           

           

           

           

          篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業,用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術的精益求精。

          DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis. 

          篤摯儀器(上海)有限公司

          :張磊

          :         

          公司地址:上海市浦東新區外高橋保稅區華京路418號

           

           

           

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